相关知识与技术
支持EF镜头和EOS
系统的先进技术
全电子卡口和电磁驱动光圈单元
EOS系统的历史可以说就是全电子卡口的历史,这一技术为EOS的发展做出了巨大的贡献。率先实现了镜头控制的电子化,这一做法完全改变了镜头的发展历史。下面来介绍其发展过程及面向未来的EOS系统的设计思想。
 
采用数字电控的电磁驱动光圈EMD
(Electro-magnetic Diaphragm)
 
使电子控制成为可能的 世界首创的技术与产品
 
    EOS系统采用全电子卡口,EF镜头上没有光圈环。所有部分都实现了电子控制,以数字信号形式传递诸如“按指定值缩小光圈”、“使光圈恢复全开”等相机指令。在相机和镜头之间不会出现类似机械式信息传递系统那样的磨损、松动、缺润滑油以及动作噪声大等问题。光圈的动作、控制由EMD(电磁驱动光圈单元)完成。EMD是Electro-magnetic Diaphragm的字首缩写。它由变形步进马达、定子、齿轮等构成,由步进马达通过小齿轮控制嵌有光圈叶片的旋转环。作为驱动源的变形步进马达每接受一个电信号脉冲则旋转一步。也就是说当相机传递光圈值信号时,信号被镜头内置CPU转换成所对应的脉冲数。通过该脉冲数可精确控制光圈口径。由于转子较小,起动、停止时的响应、控制性都非常好。单元本身采用电子控制,不需要有与相机之间的机械触点,光圈部分和镜头可自由动作,这使具有世界首款具有自动光圈调节功能的TS-E镜头的开发成为可能。
 
电磁驱动光圈EMD 电磁驱动光圈的结构
其结构具有高可靠性、长寿命的特点,由于光圈控制部分采用独立单元,可实现小型化。采用电子卡口方式进行控制,单键操作就能进行光圈调节和景深确认。与传统的机械连动系统相比,具有控制精度高的特点。 由变形步进马达和光圈叶片单元构成的电磁驱动光圈。如图所示,各零件以复杂结构相互契合。由于采用电子控制方式,单元设计的自由度比较高。正是由于有这些特性,才实现了TS-E镜头的开发。同时还着眼于未来具有与可更换镜头的数码摄像机XL2互换的兼容性。
   
 
  什么是“全开光圈测光”?
 
全开光圈测光系统可使取景器明亮
 
    现在的数码单反相机基本上都采用全开光圈测光系统来对曝光进行控制。全开光圈测光是指不以拍摄时的光圈进行测光,而是以光圈全开状态进行测光也能获得正确曝光的方式。例如,即使拍摄时选择F22的光圈,在开始拍摄前取景器均能够保持镜头光圈全开状态下的亮度。为了实现全开光圈测光,通常需要镜头卡口具有将设置的镜头光圈值传递给相机的联动装置。通过将镜头所设置的光圈值传递至相机,使其能够根据光圈全开状态下的测光量计算出在指定光圈值下所需的曝光量。从而得到正确的曝光。如果镜头与相机之间的信息传递使用机械机构,会增加机械动作,机构的负荷也会增大。而全电子卡口式的EOS系统采用电磁驱动光圈,机械负荷小,适于进行全开光圈测光。采用全开光圈测光的相机通常设有用于在通过取景器拍摄时对景深和虚化进行确认的景深预视按钮。以前主要采用机械方式与光圈联动,缩小光圈需要一定的作用力。而EOS系统由于采用了全电子卡口,因此通过按钮就可以轻触完成操作。
 
用于通过取景器确认指定光圈值下景深状态及虚化效果的景深预视按钮。而全电子卡口方式的EOS系统由于采用了全电子卡口,因此操作很轻便。不像机械机构的操作那么沉重。